产品描述
1、总结概要
MOS-FET和二极管的avalanche(雪崩)耐量判定的测试装置（Semiconductor Devices Avalanche Tolerance Tester）。往(coil)线圈内输入电流，那个能量作为 avalanche (雪崩)能量应用到设备上，来进行耐量测试。品质决定是通过 SUS 电压及 SUS 时间的品质范围设定来判断。
测量结果会在 pc 画面上显示，或者会给Handler-I/F一个分类信号。
2、特征
● DTS-1000与LV-1000 一个 site 测量（需要MRB-1000或者MRB-100选项）
● 耐量试验
Broken Test 1：可变電流模式
启动电流，停止电流，步骤(STEP)电流测量间隔的设定。
Broken Test 2：线圈可変模式（必过有CB-1000选项）
开始容量，停止容量，步骤容量测定间隔的设定。
3、外形与规格
１ Coil:CB-1000 0.1mH STEP
２ LV-DIODE:VG和VGR没有设定项目
上一页
None
下一页